设备名称
仪器设备实验功能及技术参数
设备安置地点
徕卡RES 102多功能离子减薄仪
主要
功能
对样品薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。
设备组成
RES 102主机、一体机控制机器、真空系统、离子源发生系统。
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